尽管对于大部分工程师而言，使用电子负载已经非常得心应手。然而，当面对复杂的测试环境时，还是会碰到很多的难题和困扰，例如设备突然过流保护、过功率保护、亦或是出现带载震荡等现象。
  当排除了操作设置顺序或使用模式不对等问题后，您或许要进一步考虑是否是DUT和负载之间特性不匹配所导致，也许您在实验室更换一个DUT后测试就变得正常。ITECH为了让负载匹配更多不同特性的DUT，创 新地研发了模拟和数字控制相结合CV环控制技术。工程师可以通过调节负载的CV环路速度，以更好地匹配不同环路特性的待测产品，提升设备利用率，节省您宝贵的研发和调试时间。